半导体激光器综合参数测试仪

FLDT系列半导体激光器（LD）参数测试仪是测量半导体激光器主要性能参数和特性指标的仪器。通过给受试LD提供不同的工作电流，采集不同工作条件下受试LD的各种参数信号，计算得出该LD的光电转换特性（LI和LI_M）、伏安特性（IV）、光谱特性（SP）、远场/近场特性（FF）和热特性（T）。打印测试报告，保存数据。测试光功率范围0.1mW-1000W以上，光谱测试范围从400-1700nm，根据器件封装形式的不同选择不同的夹具，包括： TO系列、COS 、C-MOUNT、BAR系列、光纤输出系列等等。

特点：

*采用单片机控制，按功能模快化设计, U*接口，性能稳定*；

* LD驱动电源连续/脉冲工作可选，具有过流保护、低噪声、无浪涌和过脉冲；

*自动完成测试、数据采集、数据处理和显示及打印。

测试参数如下：

型号：

　注：[1]更大功率需要*。[2] 更大范围需要*。[3]更*需要*。[4]CW或脉冲