E*

名称：手机射频测试座第I代　3.0＊3.0＊1.75
型号：
说明：
1、简述
本产品适用于RF电路，为电路测试提供测试转接接口
2、技术参数
2.1、额定电压：250VAC
2.2、频率范围：0～3GHz
2.3、特性阻*：50Ω
2.4、工作温度：-40℃～＋85℃
3、电性能
3.1、*缘电阻：500MΩ
3.2、耐压：300V　AC
3.3、接触电阻：120　mΩmax
3.4、电压驻波比（VSWR）：1.2　max
3.5、隔离：＆＃64001；20dBmin

4、机械性能
4.1、接触压力：3.4N～4.5N
4.2、*力：30N　max
4.3、拔出力：5N～40N
4.4、机械寿命：500次
4.5、焊点保持力：50N
4.6、冲击加速度：750m／s2（*大）耐冲击：6m　sec.波型：半正铉波
4.7、振动：10Hz～30Hz：3mm
5、环境性能
5.1、高低温
注：循环50次
5.2、稳态湿热温度：60℃、湿度：95％RH、时间：96hours
5.3、盐雾温度：35℃、浓度：5％、时间：48hours
6、包装规格
6.1、上带的剥离力度：300mm／分的速度进行剥离，力度*大应该是1.3N
6.2、包装方式：载带包装，1000Pcs／卷（Ф178mm