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产品属性
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X-MET5100 型手持式X射线荧光光谱仪
用于合金成份快速分析和合*号鉴定。
§ X-MET5100采用45kV Rh靶X射线管和高计数率硅漂移(SDD)探测器。
§ 快速、准确的对各种样品进行分析:大样品、小样品、颗粒状样品、金属碎削、线材、棒材、焊缝、管道、容器、等等。仪器软件拥有对样品形状和测定距离自动校正功能。
§ 分析*金属合金材料中的合金属元素,如Fe、Cu、Ni、Cr、Co、Ti、Sn、Sb、Pb、Zr、Au、Pt、等28种及Mg、Al、Si、S、P 5种轻元素共33种元素。
§ 分析方法:
经验系数法:不锈钢,低合金钢,工具钢,Ni合金, Co合金,Cu合金,Ti合金,Al合金(元素精准分析)
模糊测量方法:FP 基本参数法(牌号识别)
合格与否判定:
默认方式为*模式可检测*合金基体,操作简单
§ 主机配备铅板*护,*操作人员**护系数,
§ 仪器前端有红外保护功能,*性能佳。
§ 采用了Peltier恒温冷却系统,**单元的寿命及仪器测量精度不受外界温度的变化及长时间连续测量的影响。
· 装备有完善的合*号库的“开机即测”仪器。
· 直接测量温度*400 ℃的样品表面。
· 电池操作,一块电池可连续工作6-8小时。标准配置2块锂电池。
· *大的掌上电脑PDA,高亮度真彩触摸屏;基于Windows移动软件,操作简便。
· 多种操作语言自由切换,包括简体中文和繁体中文。
· 随机提供控样可*确认仪器的状态。
· 多种方式数*输:SD卡、U*线、蓝牙、WiFi等。随主机提供2个SD卡。
· 分析操作自动定时功能。
· 获得CE和cCSAus质量认证。
· 获得IP54 (NEMA 3) *水*尘认证。
· 使用环境温度:-10OC to +50OC,PDA*雨保护罩。
· 重量:1.8 kg,包含电池和PDA重量。
整机1年保修。
X-MET5100
牛津