| | 仪器特点: | | 计算机全数字化控制，操作简捷直观。 | | 步进马达自动进行针尖－－样品逼近，*实验圆满成功。 | | 深度陡度测量，三维显示。 | | 纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。 | | Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域． | | 标准RS232串行接口,无需任何计算机卡 | | 样品观测范围从0.001um-20000um。 | | 扫描速度达40000点/秒 | | 可选配纳米刻蚀功能模块。 | |
| | 技术指标: | | STM探头 | | 样品尺寸：厚度小等于15mm。 | | XY*大扫描范围：标准6X6微米 | | 可选3μm×3μm,10μm×10μm,20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm | | Ｚ向分辨率：0.01nm(HOPG定标) | | XY二维样品移动范围：５mm | | 样品-针尖白光照明 | | 步进马达自动进行针尖-样品逼近(自动保护针尖) | | 全金属屏蔽*震隔音箱（选配） | | 精密隔震平台（选配） |
| | 电子学控制器: | | | XYZ控制 | 18-Bit D/A | | 数据采样 | 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样 | | Z向反馈 | DSP数字反馈 | | 反馈采样速率 | 64.0KHz | | 高压放大器 | 集成高压运算放大器，*大电压范围+/-150V | | 频率范围 | --- | | 幅度范围 | --- | | 扫描速率 | 21Hz | | 扫描角度 | 0-360度连续可调 | | 扫描偏移 | 任意 | | 图像采样点 | 256X256或512X512 | | 步进马达控制 | 手动和自动进退 | | 计算机接口 | 标准RS232串行/U* |
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