SWIM-1510MS干涉仪
地区：江苏 常州
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无
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产品属性
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商品描述：扫描白光干涉显微仪 产品特点及用途 结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜，结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序，兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点，可提供垂直扫描高度达400um的微三维测量，*种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用领域包含： ● 晶体（Wafer）● 光盘/硬蝶（DVD Disk/Hard Disk）● 平面电组件（MEMS Components）● 平面液晶显示器（LCD）● 高密度线路印刷电路板（HDI PCB）● IC封装（IC Package）以上其它材料分析与组件微表面研究*级的3D图形处理与分析软件（Post Topo） ● 提供多功能又具亲和接口的3D图形处理与分析● 提供自动表面平整化处理功能● 提供高阶标准片的软件自校功能● 深度/高度分析功能提供线型分析与区域分析等两种方式● 线型分析方式提供直接追溯ISO定义的表面粗糙度（Rorghness）与起伏度
（waviness）的测量分析。可提供多达17种的ISO量测参数与4种额外量测数据● 区域分析方式提供图形分析与统计分析。● 量测分析结果以BMP等多种图形档案格式输出或是Excel文本文件格式输出
具有平滑化、锐化与数字过滤波等多种二维快速利叶转换（FFT）处理功能。
*精密的干涉解析软件（ImgScan） ● 系统硬件搭配ImgScan前处理软件自动解析白光干涉条纹● 垂直高度可达0.1nm● 高度的分析算法则，让你不在苦候测量结果● 垂直扫描范围的设定轻松又容易● 有10X、20X、50X倍率的物镜可供选择● 平台XYZ位置数显示，使检标的寻找快速又便利● 具有手动/自动光强度调整功能以取得*佳的干涉条纹对比● 具有*的PVSI与*VSI扫描测量模式供选择● 具有*的解析算法则可处理半透明物体的3D形貌● 具有自动布补点功能● 可自行设定扫描方向
检测范例 
技术规格参数 型号SWIM 1510MS系统配备显微镜、扫描控制器、移动平台、取得单元、个人计算机显微镜单眼显微镜（标准配件）干涉物镜（选配） 放大率 视野（mm） 光学分辨率（nm） 10X 0.5 1.12
20X 0.25 0.84
50X 0.1 0.61 影像缩放 1.0X（标配） 0.5X（选配）垂直扫描控制器扫描范围扫描分辨率扫描模式光强度调整扫描速度100 μm 400 μm(选配)0.1nm自动自动/手动12nm/s（*快）样品移动平台X、Y平面多动平台Z轴移动平台位置数字显示单元
偏移调整平台 150mm*100mm,手动（标准配件）
80mm, 手动(标准配件)三轴光学尺与三轴数字显示器（分辨率1 μm）手动 取得单元 影像传感器
感测器解析度 面型CCD（标准配件）
640*480图像(标准配件)电脑配件 Pentium-Computer,17" LCD Monitor ,120G以上硬盘
分
析 软 体 MS-Windows相容的资料撷取与分析软体包含ISO粗糙度/阶高分析,快速付利叶转换和滤多，多样的2D和3D观测视角图,外形分析,图像缩放,标准影像档案格式转换等等 阶*片(选配) 50nm 170nm 230nm 470nm 1800nm
