供应双目显微熔点仪SGW.X-*

双目显微熔点仪SGWX-*

适用范围：

用于*、化工、纺织、染料等晶体*化合物之熔点测定，显微镜观察；

既可用毛细管示测定，又可用载玻片－盖玻片法(热台法)测定；

测定物质的熔点；

测量范围：室温至320℃；

*小读数单位：0.1℃；

测量重复性：≤ 200℃：&plu*n;1℃；＞200℃：&plu*n;2℃；

线性升温速率： 0.5，1，1.5，3(°C/min)；

光学放大倍数：双目体视显微镜；连续变倍，40倍～100倍。

主要用途:

物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度。在*化学领域中，熔点测定是辨认该物质本性的基本手段，也是纯度测定的重要方法之一；

目视显微熔点测定仪是研究、观察物质在加热状态下的形变、色变及物质三态转化等物理变化过程的有力检测手段；

本仪器可用载波片方法测定物质的熔点、形变、色变等；也可用药典规定的毛细管方法测其熔点，尤其对深色样品，如医药中间体、颜料、橡胶*剂等的熔点，并能自始自终观察到其熔化的全过程。

主要特点:

1.本仪器使用毛细管法进行测量；

2.根据*要求，本仪器也可用载波片——载波片法进行测量；

3.本仪器采用LED数字显示熔点温度值；

4.本仪器采用热台控制系统和显微镜组合成一体的结构，简单*，使用方便；

5.升温速率连续可调。

我们建议你采用1℃/分的升温速率测量熔点的温度值，在*次使用时记录下1℃/分的升温速率时的波段开关和电位器的编号，则以后用此位置就能得到你的所要求的升温速率。

并请注意：

(1)室温的影响；在同样波段开关和电位器的编号下，室温越低，升温速率越慢；

(2)电子元件的影响：电子元件的老化，升温速率*时，其电位器的编号会有所变化，只要进行微调即可。

(3)编号越大，升温速率越快。

技术参数:

1.显微镜采用双目体视显微镜，连续变倍，40倍～100倍；

2.测量范围：室温 ~320℃；

3.测量精密度：室温 ~200℃的误差&plu*n;1℃；

200℃~ 320℃的误差&plu*n;2℃；

4.电源：220V， 50HZ；

5.功率：80W。

结构原理:

本仪器显微镜、加热台为一体结构，温度检测器为*式使用方便，显微镜用来观察样品受热后的反映变化及熔化的全过程。

加热台用电热丝加热，并带有风机，可快速降温。

可用载波片法测量，也可用毛细管测量熔点。

操作方法:

1.对新购仪器，电源接通，开关打到加热位置，从显微镜中观察热台中心光孔是否处于视场中，若左右偏，可左右调节显微镜来解决。前后不居中，可以松动热台两旁的两只螺钉，注意不要那下来，只要松动就可以了，然后前后推动热台上下居中即可，锁紧两只螺钉。在做推动热台时，为了*热台烫伤手指，把波段开关和电位器扳到编号*小位置，即逆时针旋到底；

2.进行升温速率调整，这可用秒表式手表来调整。再秒表某一值时，记录下这时的温度值，然后，秒表转一圈(一分钟)时在记录下温度值。这样连续记录下来，直到你所要求测量的熔点值时，其升温速率为 1℃/分。太快或太慢可通过粗调和微调旋钮来调节。注意即使粗调和微调旋钮不动，但随着温度的升高，其升温速率会变慢；

3.测温仪的传感器上，把其*热台孔到底即可，若其位置不对，将影响测量准确度；

4.要得到准确的熔点值，先用熔点标准物质进行测量标定。求出修正值。(修正值 =标准值- 所测熔点值)，作为测量时的修正依据。注意：标准样品的熔点值应和你所要测量的样品熔点值越接近越好。这时，(样品的熔点值 =该样品实测值+修正值)；

5.对待测样品要进行干燥处理，或放在干燥缸内进行干燥，粉末要进行研细；

6.当采用载——该玻片测量时，建议该盖玻片(薄的一块)放在热台上，放上药粉，再放上载波片测量；

7.在数字温度显示*小一位(如 8或7之间跳动时)应读为8.5℃；

8.在重复测量时，开关处于中间关的状态，这时加热停止。自然冷却到 10以下时，放入样品，开关打到加热时，即可进行重复测量；

9.测试完毕，应切断电源，当热台冷却到室温时，方可将仪器装入包箱内。

常见故障处理：