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XPR-300型*偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等**常用的*实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。 本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域,适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。 偏光显微熔点测定仪XPR-300系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前*技术,多年研究开发的结果,在国内享有*对*.本仪器的具有可扩展性,可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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三、系统的扩展性 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
XPR-300C型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、*的光电转换技术、*的计算机成像技术和精密的温控技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像,并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。 |
1、偏光显微镜XP-300 2、数码适配镜 3、彩色数码相机(canon) 4、热台 | |
五、选购部分 |
1. 偏光分析软件 |