供应AS-100膜厚反射率测试仪

技术参数

波长精度：0.2nm

校正线性度：99.8%

测量误差：1%以下

单次测量时间：*小100ms

功耗：200W

电源：210~245V，60Hz

信号接口：U*2.0

操作系统：windows

波长范围：200-1100 nm

数*输速率：每4ms 一个全扫描入存储器(U*2.0 接口 )，18ms（U*1.1）

每300ms 一个全扫描入存储器(串行口)

探测器：3648 像素的线型硅CCD 阵列 8um × 20um

光栅：14 种光栅，波长从紫外到近红外

积分时间：10um～65min

入射孔径：宽5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狭缝或光纤(无狭缝)

光纤连接：SMA905 接口，与0.22NA 的单股光纤相连

各类滤波片：长波通或带通滤波片，安装在光谱仪内

电子控制：8 个数字GPIO 接口 电子快门控制（*短10um）

焦距：42 mm（输入）， 68 mm（输出）

光学分辨率：0.3 nm FWHM（与光栅和狭缝宽度的选择 有关）

动态范围：2×108（系统），1300:1（单个扫描信号）

主要特点：

·*设计的优良的光学系统,*的全息闪耀光栅,*了仪器的低杂*.

·双光束测光系统,配合设计*的电路测控系统.使仪器具有高度的稳定性和

*低的噪声.

全自动的控制系统,*的设计理念,*仪器具有高*性和高稳定性.

·可拆卸结构的样品室设计,易于更换不同的附件.以满足不同的分析需求.·宽敞型开放式光源室设计,使灯源更换更加方便.·windows 环境下开发的中英文操作软件,具有多项*技术.提供了丰富的*特色的分析功能.