供应偏光显微熔点测定仪 XPM203E(图)

类型:偏光显微镜 品牌:上光厂 型号:XPM203E 仪器放大倍数:40X---630X 目镜放大倍数:10X十字、分划目镜 物镜放大倍数:4X、10X、25X、40X、63X
偏光显微熔点测定仪 XPM203E的具体信息：

一、仪器的用途：
XPM-203型*偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等 **常用的*实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化，该仪器采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，通过LED显示温度值及设定温度值,仪表显示准确、清晰.稳定，对温度可设定时间间隔内或随机打印温度数据，设有“上、下”限自动报警装置，并可*检查设定的温度数据，是新一代熔点测温，控温装置。配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，是一组具有较*功能和良好品质的新型产品。

二、仪器特点：
偏光显微镜XPM-203，随着光学技术的不断进步，作为光学仪器的偏光显微镜，其应用范围也越来越广阔，许多行业，如化工的化学纤维，半导体工业以及药品检验等等，也广泛地使用偏光显微镜。XPM-203*偏光显微镜就是*适用的产品，可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，是一组具有较*功能和良好品质的新型产品.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。
三、技术参数
名称 规格 总放大倍数： 40X---630X 无应力消色差物镜 4X/0.1 10X/0.25 25X/0.40 40X/0.65弹簧 63X/0.85弹簧 目镜 10X十字目镜 10X分划目镜 试片 石膏1λ试片 云母1/4λ试片 石英楔子试片 测微尺 0.01mm 滤* 蓝色 移动尺 移动范围30×40mm 镜筒 三目观察		测温范围 室温--300OC 测量精度 ±0.5OC *小分度值 0.1OC 测试量 < 0.1mg 控温方式 微电脑/手动控制，自动P、I、D调节 显示方式 四倍LED数码管 打印 定时、即时打印 电源 交流 220V/50HZ 使用环境 温度：0-40OC 湿度 < 85% 注意：熔点测定（温度*过100度时，25X的物镜工作距离 太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜）
四、系统简介
偏光显微镜系统是将精锐的光学显微镜技术、*的光电转换技术、*的计算机图像处理技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机显示器上很方便地观察偏光图像，从而对偏光图谱进行分析等对图片进行输出、打印。
五、系统组成
偏光显微镜熔点测定仪(XPM-203E): 1.偏光显微镜 2.适配镜 3.摄像器(CCD) 4.A/D(图像采集) 5.热台 偏光显微镜熔点测定仪(XPM-203Z):1、偏光显微镜 2、适配镜 3、数码相机（NIKON） 5.热台
六、总放大参考倍数 XPM-203E型： 100--1600倍 （17寸显示器为例） XPM-203Z型： 100--1500倍 (尼康数码相机 4500型)
七、选购件
1、150万像素成像器 2、偏光显微镜分析软件		3、长工作距离物镜：25X，40X，60X