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产品属性
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焦炉煤气激光氧分析仪
焦炉煤气激光氧分析仪
产品简介
特点和优势:
(1)不受背景气体的影响
(2)不受粉尘与视窗污染的影响
(3)自动修正温度,压力对测量的影响产品详细信息激光分析仪产品介绍
一、半导体激光光谱吸收技术基本原理
半导体激光光谱吸收技术(diode laser absorption spectroscopy,DLAS)*早于20世纪70年代提出。初期的DLAS技术只是一种实验室研究用技术,随着半导体激光技术在20世纪80年代的*发展,DLAS技术开始被推广应用于大气研究、环境监测、*诊断和航空航天等领域。*是20世纪90年代以来,基于DLAS技术的现场在线分析仪表已逐渐发展成为熟,与非色散红外、电化学、色谱等传统工业过程分析仪表相比,具有可以实现现场原位测量、无需采样和预处理系统、测量准确、响应*、维护工作量小等显著优势,在工业过程分析和污染源监测领域发挥着越来越重要的作用。
1.朗伯-比尔定律
DLAS技术本质上是一种光谱吸收技术,通过分析激光被气体的选择性吸收来获得气体的浓度。它与传统红外光谱吸收技术的不同之处在于,半导体激光光谱宽度远小于气体吸收谱线的展宽。因此,DLAS技术是一种高分辨率的光谱吸收技术,半导体激光穿过被测气体的光强衰减可用朗伯-比尔(Lambert-Beer)定律表述
式中,IV,0和IV 分别表示频率V的激光入射时和经过压力P,浓度X和光程L的气体后的光强;S(T)表示气体吸收谱线的强度;线性函数g(v-v0)表征该吸收谱线的形状。通常情况下气体的吸收较小,可用式(4-2)来近似表达气体的吸收。这些关系式表明气体浓度越高,对光的衰减也越大。因此,可通过测量气体对激光的衰减来测量气体的浓度。
2.光谱线的线强
气体分子的吸收总是和分子内部从*态到*态的能级跃迁相联系的。线强S(T)反映了跃迁过程中受激吸收、受激辐射和自发辐射之间强度的净效果,是吸收光谱谱线*基本的属性,由能级间跃迁概率经及处于上下能级的分子数目决定。分子在不同能级之间的分布受温度的影响,因此光谱线的线强也与温度相关。如果知道参考线强S(T0),其他温度下的线强可以由下式求出式中,Q(T)为分子的配分函数;h为普朗克常数;c为*;k为波尔兹曼常数;En为下能级能量。各种气体的吸收谱线的线强S(T0)可以查阅相关的光谱数据库。
JNYQ-G-8X为系列产品,根据应用要求不同,主要有以下几种组态型号:
JNYQ-G-81(原位型)
激光原位测量,响应速度快,测量精度高
集成式正压*爆设计,**
模块化设计,可现场更换*功能模块,维护方便
智能化程度高、操作方便
JNYQ-G-82(旁路型)
激光旁路测量,测量精度高,*干扰能力强
光学非接触测量,可直接测量高温、强腐蚀性气体
旁路处理装置简单、*,可直接安装在过程管道处
全系统*爆,支持气体温度、压力自动补偿
JNYQ-G-83(分布型)
分布式激光测量,支持八个测量通道,*比
测量通道*激光测量模块,*性高
网络化集中显示和控制,监控方便
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