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JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型扫描电子显微镜,与日本电子公司的元素分析仪(EDS),统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制,操作员只用一只鼠标,就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。
操作窗口
直观的操作界面的设计,简明易懂便于*掌握操作。
支持多用户
单个用户可以根据常用功能设置相应的图标,营造快捷的操作环境。用户登录时,即可加载已注册过的设定。
同时显示两幅图像
画面上并列显示二次电子成像和背散射电子成像这两种实时图像。可同时观察样品的形貌和组成分布。
微细结构测量
适合于多种测量功能。可在观察图像上直接进行测量。也可将测量结果贴至SEM图像,保存在文件中。
标准的全对中样品台,能收录三维照片
3D Sight(选配件),能够进行平面测量和高度测量,实现立体俯视图。
从图像观察到元素分析,配合连贯*
分析型扫描电子显微镜配备两台*器,一台用于SEM图像观察和另一台用于元素分析(EDS)。一只通用鼠标即可同时控制两台*器。大尺寸画面使操作更加简便与舒适。
维护简便
工厂预置中心灯丝,十分便于更换。因此,可长期保持稳定的*。此外,操作界面还能以映像形式显示灯丝维护的步骤说明。
可信赖的真空系统
真空系统使用*的扩散泵*了洁净的高真空状态。扩散泵内部无活动部件,体现了操作稳定,维护简便的特色。
JSM-6510A/ JSM-6510LA分析型扫描电子显微镜
*分辨率 | 3.0nm(30kV) 8.0nm(3kV) 15nm(1kV) |
---|---|
放大倍数 | 5至300,000x |
加速电压 | 0.5kV至30kV |
电子* | 工厂预对中灯丝 |
聚光镜 | 变焦聚光镜 |
物镜 | 锥形物镜 |
样品台 | 全对中样品台 |
X-Y | 80mm-40mm |
Z | 5mm至48mm |
旋转 | 360° |
倾斜 | -10°至+90° |
排气系统 (高真空模式) |
DPx1,RPx1 |
排气系统 (低真空模式) |
DPx1,RPx2 |
JSM-6510A
日本电子