用手动翻盖式结构,操作方便; 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,*IC的压力均匀,不移位; 探针的*头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触*,而不会损坏锡球; *的定位槽或导向孔,*IC定位*,生产效率高; 采用浮板结构,对于BGA IC 有球无球*测, 探针材料:铍铜(标准), 探针可更换,维修方便,成本低。 *缘材料:Torlon、PEI、PEEK,限位框铝合金材料制作; *小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离);
销售IC测试治具,IC测试,BGA植球,芯片测试架,U盘测试架,*测试架,返修,电脑主板,内存条测夹具,显卡,显存测试夹具,DDR3测试架摄像IC测试座 手机、蓝牙、GPS,DDR内存苡片测试夹具,美国AND,SENSATA,ENPLAS,OKI的TSOP48及其它老化座。 LGA
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