BGA测试座，BGA植球，烧录座，U盘测试架，TSOP48

 大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGA  FLASH；

 主控板兼容设计，只要更换主控板的主控IC，可实现芯邦，UT165，安国，SMI,NETWORK方案可互换！。

 采用一拖四架构设计，省去外置HUB，每台电脑可同时量产16PCS  Flash 芯片，效率*；

LGA测试座测试寿命可达20万次以上，是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿命的10*；并且探针可更换，维修方便，成本低；

 采用手动翻盖式结构，操作方便；

 上盖的压板采用*结构，下压平稳，*IC的压力均匀，不移位；

 *的定位槽，*LGA定位*，生产效率高；

 整机24小时工作性能稳定*，是FLASH经销商及U盘工厂好帮手，
     
                                     深圳鸿怡电子有限公司。赵生
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