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产品属性
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• 本测量器早已经由宇宙开発、原子力、半导体产业等的*技术分类上所采用。从研究开発应用至生产线上的应用等,可供活用的范围*广泛。
• 选配记录器,可将所测量值记录并连接PC获取数据及绘制曲线,分析放射曲线、*大、*小、平均值。
应用:
●在机器的热设计中*须使用的*件的放射率测量
• ●藉由放射温度计的测量物体来补正放射率
• ●各种*件的*/处理前后的放射率比较
• ●其他、从*件的放射率求取物体本身的放射率等
• ●材料科学院、实验领域*须的检测分析设备
产品构成:
• 1.*照射源
• 藉由在*温度中加热后的半球面黒体炉,在试料中集中照射。
• 2.*检验素子
• 从试料反射出的能量的一部分,射进半球面黒体炉的顶点的小孔,用*比率做检验。
• 注:比率是依据光学系的构造来决定。
• 3.放射率演算回路
• 从反射能量检验器的输出,演算试料的放射率。
• 注:试料的反射率和放射率的关系式如下:r εε=1-r
• 4.放射率表示値的校正
• 利用附属的放射率基准片(ε=0.06与0.94)做校正
测量原理:利用恒温放射的远*放射源,将能量照射后计算所反射的能量。
测量波长:2-22μm
测量范围:0.00-1.00
额定精度:±0.01
测量面积:Φ15mm
测量距离:12mm(固定侦测头的脚柱部)
被测物温:10-40℃(室温)
输 出:0-0.1V,0-1V(满载)
使用温度:10-45℃
使用湿度:35-85%RH(未结露、霜之状态)
使用电源:AC100V ±10%,50/60Hz
外型尺寸:侦测头Φ51X137mm(0.5Kg) 本 体H170X W306xD230mm(5Kg)
附属装置:放射率0.94、0.06基准片各一片。
使用此产品的部分客商:北芝电机、象印*法瓶、新力电器、夏普电机、新日本制铁、三菱重工、丰田合成、旭硝子、住友金属、东芝电机、柯尼卡、信越化学、岛津制造所、住友*金属等。
选配KEC-R2记录器可实现更宽广的功能:
H170X W306xD230mm(5Kg
台湾