供应探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪) Dektak XT

探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪) Dektak XT

布鲁克 Dektak XT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项*性的设计，可以提供*的重现性，重现性低于5Å。台阶仪这项性能的**了过去40年Dektak技术*的*，更加巩固了其**。通过整合其*产品，Dektak XT实现了**。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术*到第十代Dektak XT台阶仪，能够在微电子，半导体，*亮度发光二*管（LED）、*、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。

Dektak XT 技术参数：

1.    台阶高度重复性5Å

2.    单拱（Single-arch）设计大大*了扫描稳定性

3.    前置敏化器件，降低了噪音对测量的干扰

4.    新的硬件配置使数据采集能力*了40%

5.    64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度*了十倍。

6.    功能卓越，操作简易

7.    直观的Vision64用户界面操作流程简便易行

8.    针尖自动校准系统让用户更换针尖*是难事

9.    台阶仪（表面轮廓仪）领域无可撼动的**

10.  单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围