三*管开关时间测试仪

BC3193半导体分立器件测试系统

测试系统用途及主要测试对象：二*管，三*管，可控硅，场效应管，（IGBT）*缘栅双*三*管，达林顿矩阵，单结晶体管，光敏二*管，光敏三*管，光电耦合器，固态继电器等，DC/DC模块参数测试仪，MOS测试仪，三*管开关时间测试仪。

二*管及整流桥：VR、IR、VF、VZ、HVZ、动态阻*。
　　三*管：BVCBO、BVCEO、BVCER、BVC*、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、IC*、IEBO、VC*、VB*、HFE。
　　可控硅：IGT、IH、IL、VGT、VON、BVAKF、BVAKR、BVAKO、IAKF、IAKR。
　　场效应管：BVDSS、BVDSR、BVDSO、BVDGO、BVGSO、BVGSS、IDSS、IDSO、IGDO、IGSO、IDSR、VGS、VDS、VTH、gm。
　　达林顿管：VC*AT、ICEO.R.S、IEBO、HFE、VB*AT、BVCEO. IGBT、BVCGR、BVG*、TG*、VC*T、VGETH。
　　光电耦合器：VF、IR、BVR、BVCEO、ICEO、*R、VC*AT。

*测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。

*测试原理*合相应的*标准，**标准和行业标准。
*采用脉冲法测试功率参数，*合**标准并*的抑制测试温生。
*采用Kelvin测试原理，排除线路电阻及接触电压，使大电流的参数测试更准。