供应X荧光镀层厚度测量仪

X-Strata 960 X荧光射线测厚仪，适用用于电子元器件、半导体、PCB、汽车*部件、功能性电镀、装饰件、连接器……多个行业，可快速测定各种材料构成的多层镀层厚度。长寿命100瓦微焦点X射线管（其他测厚仪为50瓦），与CMI900相比，相同测量时间可以*30%分析精度，或者相同的精度要求可以减少50%的测量时间。三种样品台可供选择:程控XYZ轴、手动XY轴、固定位置样品台。更小准直器,测量更小区域，*小直径15um圆形准直器。CCD系统，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测。自由距离测量DIM：更灵活地测量不规则样品（凹凸）。一体机工作站式设计，简化设备安装，减少占用空间。

技术参数:       

--元素范围:    Ti22 – U92 同时分析层数和元素定量:5层(4层+基体)；*多同时15种元素定量

--X射线激发:   100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管（可选钼靶X射线管）

--X射线检测:   高分辨封气 (Xe)正比计数器，灵敏度高，可*多装备3种二次滤光片

--准直器:       单准直器或多准直器系统，准直器系统*多可安装4种规格的准直器，备有各种规格准直器（0.015mm-0.5mm)圆形或矩形供客户选用

--数字脉冲处理器:  4096通道数字多道分析器,包含自动波谱校正和Pulse Pile Rejection功能

--样品台:                程控XYZ轴:300 x 200 x 230mm

                         手动XY轴：250 x 250mm＋230mm程控Z轴

                         固定位置样品台，*大高度230 mm

--CCD系统:   1/2" CMOS-640X480 VGA resolution镜头标准为15倍，可选购40倍或由软件放大X1、X2、X3、X4 激光自动对焦

--自由距离测量DIM:  在12.7~88.9mm自由聚焦范围内可准确聚焦样品表面任意测量点，并有自动雷射聚焦功能

--统计报表功能: 平均值、标准偏差、相对标准偏差、*大值、*小值、数据变动范围、量测点数、控制上线图、控制下线图、CP、CPK数据分组、X-bar/R图、直方图

数据储存功能统计报告软件允许用户自行设计报表 (另可选购Excel 输出功能)

--电源:        85-130V或者215-265V、频率47-63Hz

--工作环境:    10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水 

--仪器尺寸:     H744 x W686 x D813

--重量:         160公斤