X荧光测厚仪

TX220型X荧光测厚仪

应用范围
 镀层测厚分析、电镀液离子浓度分析。适用于电镀、真空镀、离子镀的X荧光测厚仪。
 钢铁、有色金属、塑胶、废旧原料回收元素分析

性能指标
 可测镀层： *多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
 镀层种类： 单金属、合金、无机薄膜
 精度：  *高可达0.01um
 厚度相对误差： 单层5%，多层10%
 厚度范围： 轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um
   中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
   *属（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um
 *小测量直径： 2mm
 分析时间： 20～100S

技术参数
 探测器： 正比计数器

 X光管：  钨（W）靶，*大电压50kV，*大电流1mA
 高压电源： 精密X射线*电源，*高输出电压50kV
 滤光片： 6组滤光片电动切换，*降低背景干扰
 准直器： 直径8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm电动切换
 对焦系统： 旋钮视觉对焦
 样品腔： 大气
 样品观察： 高清晰彩色CCD射线头
 X射线*护： 三重X射线*护（样品腔、机壳、程序控制）

 输入电压： AC 220V/50HZ
 功耗：  260W
 样品腔尺寸： 660×400×135mm
 外型尺寸： 680×460×475mm
 重量：  40Kg