李进华
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分 析 范 围: 1PPM-99.99%同 时 分 析: 几十种元素同时分析测镀层厚度*至0.01微米测 量 对 象: 固体、粉未、液体测 量 时 间: 60-300 秒测 量 精 度 : 0.05%分 析 元 素: Na-U工 作 温 度: 15-26℃相 对 湿 度: ≤70%重 量 : 80KG功 耗: 200瓦
1 仪器尺寸 630mm*440mm*380mm2 测量样品室 400mm*260mm*110mm3 重 量 约 40Kg4 适宜温度 5-30 ℃5 相对湿度 ≤ 80%6 元素分析范围 钾 (K) 到铀 (U)7 含量分析范围 为 2 PPm 到 100000 ppm8 测量时间 60-300 秒 ( 任意调整 )9 分辨率 149 -- 186 eV FWHM @ 5.9 KeV10 电源 交流 220V &plu*n; 5V 或 110V &plu*n; 5V11 电源频率 47-63 Hz12 高压输入 +24V dc+- 10% , 4.0 A (*大)13 高压输出 0 -50KV @ 1mA *大功率 50W
仪 器 配 置: 电制冷硅探测器 美国Amptek公司定制高压电源 美国SpellmanDP4 高集成度*数据处理器美国Amptek公司定制X光管 荧光分析仪*制冷系统 在电子式制冷的基础上又增加两套*水循环制冷系统摄像定位系统计算机 DELL-OPTIPLEX 210L商务软件 ROHS标准全套检测软件
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