涂层测厚仪/膜厚仪/TG-200

型号

外置探头膜厚仪TG-200

货号

761-106

测量范围

0-1250um/0-50mil

功能

测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电体覆盖的厚度

测量方法

F磁感应/NF涡流

分辨率

0.1/1

*小曲面

F：凸 1.5mm/凹 25mm；NF: 凸 3mm/凹 50mm

*小测量面积

6mm

*薄基低

0.3mm

电池电压指示

低电压提示

准确度

&plu*n;（1-3%n）或&plu*n;2um

公制/英制

可选择

电源

4节7号电池，自动关机

使用环境

温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH

外形尺寸

126×65×27mm

重量

81g（*电池）

Item 内容描述

Quantity 数量

TG200主体

1

Fe探头（测量导磁物体上的非导磁涂层）

1

NFe探头（测非导磁性金属基体上的非导电覆盖层）

1

铁基

1

铝基

1

标准片（51&plu*n;0.5µm；）

1

标准片（120&plu*n;1µm；）

1

标准片（303&plu*n;3µm；）

1

标准片（429&plu*n;5µm；）

1