x荧光膜厚测试仪

x荧光膜厚测试仪应用范围
  *  测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从17(Cl)到92(U);
  *  5 层 (4 镀层 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
  *  组成成分分析时可同时测定24种元素;
  *  镀液中元素含量分析;
  *  元素光谱定性分析;
  *  基材分析;
生产商及仪器型号：
制造商：美国BOWMAN公司
原产地：美国
型  号：BA 100

x荧光膜厚测试仪作为一种在线测量厚度的精密仪器，在电镀工艺生产中占有非常重要的地位，直接影响到电镀产品的质量。镀层控制系统接收到膜厚仪提供的实事厚度偏差信号对物料挤出机、物料加热器进行控制。信号的准确和灵敏程度直接影响了镀层产品厚度的精度。
x射线膜厚仪通过吧高压直流电压加在x射线的两极，产生不同能级的x射线穿过被测物，比较被测物两端x射线的强度来进行在线厚度测量。