半导体分立器件老化试验设备

品牌:杭可型号:DEVD-V系列二*管/桥堆全动态老化系统类型:精密老化箱材质:钢温度范围:150（℃）功率:5000（W）工作室尺寸:1313*1950*1350（mm）电源:220 适用范围:二*管

■ *合标准：G*128(等同MIL-STD-750)

■ 适用范围：适应对各种封装的整流二*管、桥式整流器进行全动态老化试验。

■ 技术性能：

型号	DEVD-V/ VS		DEVA-VB/ VBS
适应器件	整流二*管		桥堆
试验容量	48位	16位	24位		8位
老化电源	2路正向老化电源， 120A以上； 2路反向老化电源，1500V以上；	4路正向老化电源， 120A以上； 4路反向老化电源，1500V以上；	2路正向老化电源， 120A以上； 2路反向老化电源，1500V以上；	4路正向老化电源， 120A以上； 4路反向老化电源，1500V以上；
正向电流	5A	30A	10A	30A
工作特性	正向老化电流和反向峰值老化电压连续可调；对每只器件提供*的老化回路，器件试验状态、试验条件互不影响
检测功能	检测每个器件正向电流IF、导通电压VF、反向漏电流IR、反向动态电压VR
保护功能	击穿保护，自动脱离试验回路
电源要求	AC220V,50Hz,三相整机功率：5kW以下
重量	约450kg
外形尺寸（宽×高×深）	1313mm×1950mm×1350mm

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