■ *合标准：G*128、MIL-STD-750

■ 适用范围：适应各种封装、各种波段微波功率器件的老化和筛选试验。

■ 技术性能：

■ 工作特性

● 适用L、P、S波段微波晶体管进行稳态功率和脉冲信号老化，稳态和脉冲信号老化方式可选。

● 老化器件的封装：金属陶瓷全密封封装。（可根据用户器件封装定制）

● 每个试验器件提供一套老化平台，每套老化平台采用水循环冷却方式并具有单工位加热功能，各工位平台温度单独可调。

● 系统为每个老化器件提供一个温度传感器，能够对每个试验器件的壳温进行监测。

● 老化中系统可对每个器件的老化电流、老化电压、散热平台温度进行测试、记录和打印。

● 配置高洁净度老化电源，*的试验电路*抑制自激振荡。

● 采用高频电磁波吸收材料和*的试验电路配置。

● 基于WINDOWS平台的*操作软件，通过以太网对设备进行控制和数据交换，试验器件名称、试验状态、试验进程、实时检测数据、失效统计等信息一目了然；*查阅检测数据，描绘数据曲线，可按时间列表显示检测参数，也可按工位列表显示检测参数。对长时间、多品种的*性试验数据按元器件试验品种、批次、失效情况等不同的索引方式，进行查找、统计、分析并形成图表报告或相应曲线。