涂镀层测厚仪

类型:涂层测厚仪 品牌:中科院 型号:HMTD-2W 测量范围:0-0.03（mm） 显示方式:数显 电源电压:220（V） 外形尺寸:300*250*150（mm）

说明：HMTD-2W型涂镀层测厚仪是对导磁性基体上金属镀层及非金属涂层厚度进行非破坏性厚度测量的仪器。它既可测平面导磁性基体上的金属镀层及非金属涂层的厚度，也可测各类异型面导磁性基体上的金属镀层及非金属涂层的厚度。该仪器体积小、操作方便、*性好，适应于各种使用环境。

功能特点：微点小探头点测范围小于1mm，*了凹凸曲面、细薄*件测量难题；并能在*，完成对镀层连续的测量扫描，测量精度已经*X荧光同一等级；还由于采用*频，使得钢铁基体的成分差异造成的*位偏差大大缩小,*适合于五金、汽配、螺丝行业之精准测量（如碳钢是镀锌）。

适用行业： 机械和汽车转轴硬铬镀层测量，电子行业金、银贵金属镀层测量，细、小、薄物件和印刷线路板镀层测量，普通金属*件镀锌，镍，钛等单一镀层测量。

*新体验：

1、*微点小探头，成功解决1mm内细小薄部件和凹凸曲面测量；

2、快速检测，0.1秒内完成对镀层的扫描读数；

3、非破坏性，重复性好；

4、可以测多种镀层，从包括达克罗的各种薄涂层到电镀锌，镍的金属镀层*检测；

5、双通道，双探头，双显示模式，可以同时测两种膜层，而不用切换工作模式；

6、可以选购打印功能，也可以连电脑。

主要技术指标：

测量范围： 0－30µ

*小曲率： 无限制

*小测量面积： φ1mm

*小基本厚度： 0.5µm

显示单位： 0.1µm

电源： 180～240VAC，50HZ。

仪器尺寸： 280×240×100 mm