供应德律I*电子测量仪器

项 目

详 细 参 数

测试点数

标准配备:256点,可以每片开关板64点或128点扩充至1792点

测试步骤

*大步骤: 12288步骤,可依需求扩充

测试时间

开路/短路测试:每1000点约1Sec(T*ical DUT)

元件测试:每一元件约0.6mSec至30mSec(T*ical DUT)

测试范围

电阻:0.1Ω至40MΩ 电晶体/二*体: 0.1V至9.99V

电容:1.0PF至100mF Zener Diode: 标准,0.1V至9.99V,选配HV,0.1V至48V

电感:1.0UH至60H

隔离点电路

隔离点自动选择,每测试步骤5点

测试值上下限设定范围

上限:+1%至999% 下限:-1%至-99%

可测电路板尺寸

标准配备: 420mm(宽)×300mm(深)×100mm(高)

选购配备: 500mm(宽)×350mm(深)×130mm(高),更大尺寸基板可依需求订做.

主控制电脑

Pentium4等级PC

*器

Super VGA低辐射CRT彩色显示器或彩色液晶显示器

记忆设备

3.5" 1.44*软驱,40-250GB硬盘

列印机

标准配备:40行双色列印机

*其它选购配备

WindowsXP作业系统环境,多国语言使用界面(英文、中文、日文）

Trace Level 图形显示检修软体。

网络连线及远端遥控维修，Bar Code Reader(Printer)Package,

Auto Test Program Generator,Data Transfer Generator

光电保护及多连板自动盖章功能

实装板程式烧录功能

Agilent TestJet功能：

可测IC数量：标准配备，64频道/MUX CARD

*大扩充，960频道 测试时间：2mSec/Pin