数位IC测试仪

产品介绍 　
Loop 测试
自动搜寻: IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
最大可测 Pin 数 : 28 Pin
产品功能描述 　
测试范围: 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS, 4000 及 4500 系列 CMOS ,55 及 75 系列 TTL
量测种类: 约 1800 种
测试电压: 5V DC
测试时间: 高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC
使用电源: 交流 110V/220V ±10%, 50/60Hz
产品特征 　
长度: 300mm
宽度: 335mm
高度: 105mm
重量: 约 1.5 公斤
机带附件: 　
　 电源线 x 1, 操作手册 x 1
产品持有证书: 　
　 CE