Agilent4287A射频LCR测试仪
Agilent 4287A射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供*、*和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻*范围进行*测量。
生产率高，质量*
4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量*快。此外，在小测试电流(100μA)处优良的测试重复性还可以显著*生产率，因为所需的取平均过程*短。
系统组建简单
测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何*。内置比较器功能、*GPIB接口和处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。
便于使用
8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供*测试质量和效率的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7 SMD测试夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作*夹具。
技术指标
（*的技术指标参见数据资料表）
测量参数：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度），θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同时显示4种测量参数）。
测试频率：1MHz～3GHz
频率分辨力：100KHz
测试信号：
V:4.47mV～502mV(f≤1GHz); 4.47mV～447mV(f>1GHz)
I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)
电平*功能：电压，电流
基本的Z精度：±1.0%
测量范围：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%)
测量时间：每点9ms（**）
Rdc测量：可用于触点检查
校准：开路/短路/负载/低损耗电容量
补偿：开路/短路,电长度
大容量存储功能：30*固态大容量存储或2 GB硬盘（选择选件）
接口：GPIB,LAN(10Base-T/100Base-Tx自动选择)，处理器接口
显示：8.4英寸彩色LCD显示器
一般指标
电源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax，
工作温度/湿度:5℃～40℃,相对湿度20%～80%
尺寸：234mm高×425mm宽×445mm深（主机）
重量：16kg/0.3kg（典型值）（主机/测试头）
主要技术资料
4287A射频LCR测试仪产品介绍，p/n 5968-5443E
4287A技术指标：p/n 5968-5758E
LCR测试仪，阻*分析仪和测试夹具选购指南，p/n 5952-1430E
订货信息
4287A射频LCR测试仪
供应的附件：测试头（1m），3.5mm～7mm适配器，16195B APC-7校准配件，鼠标器，键盘，操作手册和电源线（4287A不提供测试夹具）
选件
选件001删去16195B校准工具箱
选件002删去测试夹具座
选件003删去3.5mm～7mm适配器
选件004增加工作标准套件
选件010硬盘驱动大容量存储器
选件011 固态大容量存储器
选件020 增加电缆延伸套件
可提供的附件
16190B性能测试配件
16195B 7mm校准工具箱
16191A侧面电*SMD夹具
16192A平行电*SMD夹具
16193A小侧面电*SMD夹具
16194A高温测试夹具
16196A用于1608(mm)的平行电*SMD夹具
16196B用于1005(mm)的平行电*SMD夹具
16196C用于0603(mm)的平行电*SMD夹具
19197A底面电*SMD夹具
