供应偏光显微镜XPR-300C

类型:偏光显微镜 品牌:显微镜 型号:XP-300C 仪器放大倍数:40-630X 目镜放大倍数:10X 物镜放大倍数:4X 10X 25X 40X 63X 重量:15KG（g） 适用范围:地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业 装箱数:1

生产各种:金相、生物、偏光、体视、荧光、倒置、工具、测量、视频显微镜等。推荐*产品：阿贝折射仪-2WAJ，测量显微镜15J

仪器的主要技术指标:

XP-300C型*偏光显微镜是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等**常用的*实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。 　　

本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。 　

偏光显微熔点测定仪XPR-300系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前*技术，多年研究开发的结果，在国内享有*对*.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。

1.显微镜技术参数:

名称	规格
总放大倍数：	40X---630X
无应力消色差物镜	4X/0.1
	10X/0.25
	25X/0.40
	40X/0.65 弹簧
	63X/0.85 弹簧
目镜	10X 十字目镜
	10X 分划目镜
试片	石膏 1λ 试片
	云母 1/4λ 试片
	石英楔子试片
测微尺	0.01mm
滤*	蓝色
带座目镜网络尺
移动尺	移动范围 30mm×40mm
镜筒	三目观察

2.熔点仪技术参数:

热台组成	性能
显微精密控温仪	在 20倍物镜下工作温度可**高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定， 30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度 &plu*n; 0.3 ℃、记忆点读数
显微加热平台	可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于&plu*n; 0.1 · 起始温度室温 ·工作区加热使用面积至少 1X1厘米 · 工作区温度梯度不*过 &plu*n; 0.1 · 透光区域 2mm以上，可调 · 显示温度与实际温度误差不*过 &plu*n; 0.2 · 热台可以随载物台移动 在加热状态下*高可使用 20倍物镜
注意：熔点测定（温度*过100度时，25X的物镜工作距离 太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜）

系统的扩展性:

XP-300C型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、*的光电转换技术、*的计算机成像技术和精密的温控技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像，并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。

系统组成:

1、偏光显微镜XP-300　　　　　　 　　　

2、电脑适配镜

3、彩色摄像器机

4、A/D转换器(图形采集设备)

5、热台

6、计算机

五、选购部分

1. 偏光分析软件

2.200万像素彩色成像器,300万像素彩色成像器,400万像素彩色成像器

本公司提供质量*,技术支持, 售后服务.

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