PIC-2集成电路高温动态老练实时测试系统

电子测试仪器仪表 PIC-2集成电路高温动态老练实时测试系统

PIC-2集成电路高温动态老炼实时测试系统是参照美国*标准MIL-STD-883和**标准G*548进行设计，能对大中小规模的数字、模拟集成电路作高温静态/动态老炼试验；还能进行老炼中间测试试验（TDBI）。系统采用以PC机为主控*机，16套*单片机为下位机的集散控制系统。PIC-2能同时老炼16种不同器件，在老炼过程中控制其老炼电压、输入信号、试验时间及温度等。系统中储存了数千种集成电路的老炼测试参数，能在老炼过程中自动检测出失效器件，并根据用户自己的老炼测试要求，随意修改参数。适合整机厂、器件厂、研究所对集成电路进行质量检测、产品分析和器件筛选测试。

在老炼过程中测试（TDBI）的优点：
1、能*老炼效果，不可能由于人为原因造成的“假”老炼现象。
2、能优化老炼测试时间。
3、清除“*”性故障。
4、可提供器件动态老炼失效曲线。

主要技术指标及功能：
1、试验容量：16通道，每个通道40工位。
2、试验温度：室温～+150℃。
3、程控老炼电源：每个通道±3V/3A～±15V/3A。高稳定度、低纹波、过压、过流保护。
4、主频：数字通道62Hz～256KHz，模拟通道3.9Hz～16KHz，32路可编程老炼信号，可任意设置为输入信号或地址信号。
5、时控：1～1000小时任意设置。
6、具有*的检测动能，实时发现器件失效情况。
7、在老炼过程中可任意*被测器件的任何一脚输入或输出波形。
8、*可打印老炼测试报告。
9、工作条件：①电源：220V±10% ②环境温度：25℃±5℃
③相对湿度：＜80% ④接地电阻：R≤4Ω
※ 可定制2路、4路集成电路动态老炼实时测试系统