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E*on EV系列二次元影像测量仪采用高解析度CCD影像系统,*工作台及0.001mm分辨率光学尺作测量系统,将工作放大40-200倍作精密测量。被测工件清楚地显现于电脑显示屏上,*适用于卡尺及其它量具无法测量的曲线,*精细*件的测量。
E*on EV系列二次元影像测量仪配备*的几何测量软件,可作*复杂及精密的几何测量。
测量结果可用工件图当DXF格式输出至各类通用的CAD软件,如AUTOCAD、MASTERCAM…等等方面使用于抄数。测量结果可连接通用的办公软件,如EXCEL、WORD格式输出,将测量结果保存,让客户能自行作进一步的数据处理,统计分析……等,令QC、QA工作更加简单容易。
仪器型号EV2515测量行程250mm×150mmX、Y轴显示分辨率0.001mm X、Y轴向线性精度U=( 4+L/50 )μm;L为被测长度(单位:mm) X、Y轴向重复精度&plu*n;0.002mmZ轴(工件限高)150mm 200mm 250mm影像系统摄像头1/2"彩色高解析摄影机影像卡*10 moons卡镜头高解析度Telecentric Lens 0.7~4.5X视屏倍率19×~125×(实物到17'萤幕1024×768像素)物方视场8.98mm×6.77mm~1.38mm×1.04mm工作距离42mm(焦距77mm)照明*光源、表面光源均为可调LED环形光传动方式光杆传动+双导轨操作方式X、Y手轮+快移Z手轮机台基座、Z轴立柱00级*花岗岩平台