长期供应数字集成电路测试仪

YBD868型数字集成电路测试仪是一种性能较高的通用仪器，可测范围复盖了大多数的数字集成电路，测试准确*，操作简便，基本功能如下: * 器件好坏测试 * 器件型号判别 * 器件动态老化 * 器件代换查询 YBD868型数字集成电路测试仪以*的微处理器为*，主要器件选用INTEL， MOTOROLA等著名器件公司出产的集成电路，配合软件和外围扩展系统来*模拟被测器件的综合功能，几乎适合于*具有固定输出的数字集成电路。广泛用于维护，检测各类计算机，工业自动化设备，大型*仪器，数控机床，微机外围设备，程控交换机，电子仪器仪表，数字通讯设备，电子继电保护装置及各类电子产品。

. 整机及配件 1. YBD 868型数字集成电路测试仪 一台 2. 电源线 一根 3. *器件测试板 一块 4. 说明书 一本 5. 保修卡 一张

技术指标 1．操作系统：十六位轻触式立体键盘双音提示系统，被测器件安装采用 锁紧插座。 2．显示系统：六位数码管显示器显示被测器件型号或各种功能提示，

LED显示仪器工作状态。 3. 电源电压：220V±10%，50HZ 4. 整机功耗：12VA 5. 适用温度：0℃--+40℃ 6．工作时间：工作1小时停电5分钟。若连续工作，电源电压<230V，环 境温度<25℃。 7. 仪器结构：台式塑料机箱 8. 外形尺寸：292*235*75立方厘米 9. 整机重量：2.0KG

. 测试范围 YBD868型数字集成电路测试仪库存容量两千多片，包含以下各大系列: 1. TTL54系列 2. TTL55系列 3. TTL74系列 4. TTL75系列 5. CMOS14系列 6. CMOS40系列 7. CMOS45系列 8. 光耦合器系列 9. LED显示器系列 10. 常用RAM系列 11. 常用单片机系列 12. 微机外围电路系列

功能综述 1.器件好坏判别: 当未知被测器件的好坏时，只要输入该器件的型号， 并将器件放于对应的工作插座上，仪器即可判别出该 器件的好坏。 2.器件型号判别: 当未知被测器件的型号时，*输入该器件的引脚数 目，并将被测器件放于对应的工作插座上，仪器即可 立即判别出该器件的型号。 3.器件代换查询: 输入欲查询的器件型号，按下“代换查询”键就可知道 是否有逻辑功能与之*相同的其它器件。 4.器件动态老化: 当怀疑被测器件的动态稳定性时，只要输入该器件的 型号，并将被测器件放于对应的锁紧插座上，按下 “动 态老化” 键，仪器就可对该器件进行动态老化和连续 测试。

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