数字*缘测试仪 FLUKE 1550B(图)

品牌:FLUKE 型号:FLUKE 1550B

数字*缘测试仪 FLUKE 1550B

商品详细信息：

测试电压：250V、500 V、1000 V、2500 V 和 5000 V
在250至1000伏的范围内，测试电压可按50伏的步进电压；在1000至5000伏的范围内，测试电压可按100伏的步进电压。
0至 1 TΩ的*缘电阻测量
电压报警功能提示用户电源电压，可测量*600 V 交流/直流电压
保护系统消除了高阻测量时的表面漏流效应
大屏幕模拟/数字显示详细的测量数据
可测量线缆和*缘电容
漏泄电流测试
0至5000伏的直流电压可用于破坏性试验
1 到 99分钟的定时器
自动计算吸收比和*化指数
可在99个存储单元中存储*测量参数
包括 Quicklink 1550B软件和光缆
两年质保

技术指标

测试电压 250 V DC

量程：	200 kΩ 至 5 GΩ
准确度：	5%
量程：	5 GΩ 至 50 GΩ
准确度：	20%

测试电压 500 V 直流

量程：	200 kΩ 至 10 GΩ
准确度：	5%
量程：	10 GΩ 至 100 GΩ
准确度：	20%

测试电压1000 V 直流

量程：	200 kΩ 至 20 GΩ
准确度：	5%
量程：	20 GΩ 至 200 GΩ
准确度：

测试电压 2500 V 直流

量程：	200 kΩ 至 50 GΩ
准确度：	5%
量程：	50 GΩ 至 500 GΩ
准确度：	20%

测试电压 5000 V 直流

量程：	200 kΩ 至 100 GΩ
准确度：	5%
量程：	100 GΩ 至 1 TΩ
准确度：	20%

短路电流

> 1 mA 且 < 2 mA

柱状图

量程：

0 至 1 TΩ

*缘测试电压

准确度：	0% 至 10%，1 mA 负载电流时

感应交流电流抑制

*大：

2 mA

容性负载充电速率

5 s/μF

漏泄电流

量程：	1 nA 至 2 mA
准确度：	±(5% + 2 nA)

电容测量

量程：	0.01 μF 至 15.00 μF
准确度：	±(15% rdg + 0.03 μF)

实时电路指示器

量程：	30 V 至 600 V (AC/DC，50/60 Hz)
准确度：	±(5% + 2V)

定时器

	1 - 99 分钟
可调：	1 分钟增量
指示：	1 秒的分辨率

斜波

所选测试电压的0% 到 100%，或者直接到破坏测试电压

环境技术指标

操作温度

-20°C 至 +50°C

存放温度

-20 °C 至 +65 °C

湿度（非凝结）

31 °C时为80%， 50 °C时为50%

*尘/*水

IP-40

操作海拔高度

2,000 m

*特性

*等级

EN 61010-1, CAT III 600V, EN61557, Parts 1 & 2

*电磁干扰能力

EN 61326

机械和通用技术指标

尺寸

170 x 242 x 330 mm

重量

4 kg (含电池)

电池

12 V 铅酸电池，可重复充电

保修

2 年

电池寿命

测试电压	测试次数
250 V:	4100
500 V:	3600
1000 V:	3200
2500 V:	2500
5000 V:	1500

震动和振动

MIL-PRF-28800F, Cl* II

充电器输入

交流：	85 至 250 V AC，50/60 Hz，50 VA

上海域科电子科技有限公司

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