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XLE-3大平台检测显微镜
XLE-3型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路,晶体的质量检测而设计开发制造的。
正置式,三目镜筒,比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连续彩色*器可直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机,照相机直接拍照,还可以直接进行图像记录,并建立技术检测档案,存储,查询,可省去复杂烦琐的摄影,洗印等暗室工作,大大的*了工作效率。
1)放大倍数:40倍至500倍;
2)*型载物台,可作大范围的纵横方向快、慢速移动,扩大检测领域的使用范围,适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门,以及金相技术检验,失效分析等。
主要技术参数
1.机械筒长160mm
2.物镜
4× 10× PC20× P*0×
3.目镜
10× 12.5×
4.物镜:
放大倍数,400倍至500倍
5.载物台面积 400mm×300mm
纵向移动范围---254mm
横向移动范围---254mm
6.调焦机构:同轴粗微调机构,调焦范围36mm.格值0.002mm
7.光源:内藏式连续调光电源,钨卤素灯12V/50W。
8.物镜转换器 五孔式 (四孔式)
9.目镜筒 三目镜 (双目镜)
10.仪器功能,明场,偏光,摄影等
11.仪器重量:17公斤
12.仪器体积:长560mm,宽530mm,高400mm