XDAL,XDVM菲希尔（*CHER）膜厚仪,XRF镀层厚度分析仪配*的X射线光学系统,专门测量*小的面积.电动测量台,*量解像半导体接收器,四个电动准直器.自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴*冲撞传感器，可*在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械*部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等 *合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能**高的*度和*低的检测限。*短短数秒钟，*从17号元素氯到92号元素镭的*元素*准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Br*，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
菲希尔XUL（M）膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域
