镀层厚度测量仪，薄膜测厚仪，XRF荧光测厚仪

类型:镀层测厚仪 品牌:1 型号:9200 测量范围:1-40（mm） 显示方式:1 电源电压:1（V） 外形尺寸:1（mm）

技术参数：
仪器的*：广泛应用型
可测元素：Ti～U
X射缐管：小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)管电压：45kV 管电流：1mA Be窗

滤波器：
一次滤波器：A1-自动切换
二次滤波器：Co-自动切换
检测器：比例计数管
样品观察：CCD摄像机
对焦方式：激光自动对焦
测定软件：薄膜FP法、检量线法
5个准直器可自动切换
型(Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm)
型(0.2×0.05 mm、0.05×0.02 mm)
*机能：测量室门自锁功能
Z轴*冲撞功能
仪器自诊断功能

仪器介绍：
SFT系列中标准型仪器
滤波器
另有SFT9250、SFT9255两种机型
标准配备有Windows2000中文操作界面
采用检量线法和FP法，测量数据与Word和Excel链接
自动生成报告和数据处理
5个准直器可自动切换
工作台3维电动，可编程进行自动测量
采用激光自动对焦，并配备有Z轴*冲撞传感器
可*在对焦时造成仪器的损坏。

产品特点：
能够测量无铅焊锡
配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份
搭载中心搜索软件
通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。
拥有*冲功能
搭载激光对焦系统
搭载测试报告自动生成软件
拥有自动测量软件以及中心搜索软件
搭载了薄膜FP法软件。