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产品属性
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发光芯片检测设备采用*设计的同轴光学系统,测量的波长范围涵盖350mm?1000mm,可以对可视LED、UV-LED、近红外LED等进行测量和评估。
产品特点:
1. 可同时对芯片的发光形状、光谱和强度完成即时测量;
2. 轻巧设计,可放在桌上直接操作;
3. 较广的测量波长范围:350mm?1000mm
4. 高测量分辨率:形状分辨率1.34µm、光谱分辨率1nm、强度分辨率10nW
5. 可选择安装I-L-V测量功能
6. 配备有标准的手动XYZ轴平移台
用途:
1. 生产线上的产品检查
2. 质量管理部门的故障分析
3. 技术开发部门的实验芯片检测
4. 研究及开发用设备
5. 测定LED性能的基础设备
产品参数
测量 | |
测量项目 | 发光形状、光谱、光强度 |
受光条件 | NA:0.1、焦点距离:15.7mm |
测量波长范围 | 350nm?1,000nm |
测量光强度范围 | 约10nW?100mW:根据光束和光谱而变化 |
可测量的*大芯片尺寸及分辨率 | 约1.3mm×1.1mm,分辨率1.0µm |
光谱分辨率 | 约1nm |
XYZ平台系列 | |
构成 | 光学系搭载XY平台、样品搭载XYZ平台、样品托架、底座 |
光学系搭载XYZ平台 | 移动量:XY&plu*n;50mm |
样品搭载XYZ平台 | 移动量:XY&plu*n;6.5mm、Z&plu*n;3.0mm,分辨率:10µm |
样品托架 | 标准:4个插口 |
底座 | 300mm×450mm |
测量软件 | |
发光形状 | 光束宽幅、坐标、光束面积、主轴倾斜度,X图,XY图,二维图,三维图等。 |
发光光谱 | 光束波长、重心波长、光谱宽幅、光谱图等 |
发光强度 | *强度值,*大值,*小值,平均值,强度的时间变化等 |
动作环境 | 配有U*2.0插口的Windows XP PC,软件用CDROM安装。 |
标准构成 | |
同轴光学系 | 本机,5倍变焦,滤光器,照明光源(含电源) |
发光形状测量用摄像头 | 本机,U*接线,测试软件CD |
光谱测量用分光器 | 本机,光纤,U*接线,测试软件CD |
强度测量仪 | 本机,Si强度测量头,U*接线,测试软件CD |
软件 | 分析测量数据的软件CD |
平台系列 | 光学系搭载XY平台,样品搭载XYZ平台,样品托架、底座 |
I-L-V测量(可选) | |
测量项目 | 测量I-L、V-L、V-I |
电压电流测量范围 | 0.01V?38V/分辨率10mV 0.001mA?200mA/分辨率1µA |
构成 | 测量仪,U*接线,测量软件 |