供应便携式Ｘ荧光光谱仪

产品介绍
能量色散Ｘ射线荧光光谱分析仪，是利用Ｘ线管的一次Ｘ线照射到试料上所生成的荧光Ｘ线，由半导*测器进行测量分析。不受测量样品形状的约束，*的进行非破坏的元素含量的分析。半导*测器使用现在**的SDD(Silicon Drift Detector)检测器，不需要液体氮气冷却，结合数字式电子信号处理DSP(Di*al Signal Processor)设计，*了激励光学原理测量的*佳条件，充分发挥了*高的能量色散分解能力，实现了高分辨率、高计算能力的分析性能。

*的RoHS*合性筛选设备—XRF

　　OURSTEX以其*比成为东京都环境局认定产品，现由深圳市兆威隆科技有限公司引进适用于WEEE&RoHS指令、ELV和土壤污染的检测设备：X-射线荧光光谱仪 XRF；共提供OURSTEX160RoHS、OURSTEX160Multi、OURSTEX160和OURSTEX100FA四种机型，运用于不同场合。设备拥有自身的技术*，广泛应用于各类元素（12Mg-92U）的识别、检测与成分分析。在日本本土拥有*机构（如：日本原子力研究所、产业技术综合研究所等）、学校（如：东京大学、大阪大学等）和企业（如sony、松下等）多达一百多家用户。

主要特点
１.采用**的电子冷却式SDD检测器；不需要液体氮，降低了使用成本．
２.Ｘ线管采用钨（Ｗ74）作靶材，较一般铑（Ｒh45）靶材具很高的Ｘ射线
放射能量．
３.使用电源，* AC100～240 V 、 5 A．
４.具有高计算率·高分解能力，可以短时间内进行微量分析．
５.是 WEEE&RoHS 规定、 ELV 、土壤污染调查的*适检测仪器．
６.大型\弯曲，能分析大样品；以及贵重物品．

技术参数
测定原理：能量色散型X射线荧光分析法
测定对象：电气·电子，塑料*件，土壤等物质；大型＼弯曲＼贵重等物件
测定元素：Cr,Br,Cd,Hg,Pb (选配　测定范围12Mg～92U )
Ｘ线照射径：～３ｍｍФ
样品室：密闭时：Max30mmФX35mmH。开放使用时任意。
样品室气压：大气
样品观察：彩色ＣＣＤ摄像头
二组滤波器：一次滤波器（2种模式）／二次滤波器 自动切换
Ｘ射线发生部：4８kV，1.75mA *大50W
Ｘ射线检测器：电子冷却半导*测器SDD（Silicon Drift Detector)
高计数技术：数字信号处理方式 DSP (Di*al Signal Processor)
能量分辨率：140eV～＠Mn-Kα
高计数率：300,000 (CPS)
靶材（对阴*物体）：74Ｗ(钨靶材)空气冷却
使用温度：5～27℃
使用湿度：20～75%
电源：AC100V～240V，5A（推荐接不断电系统UPS）
设备：Ｄ种接地
其他（选配件）：标准试料(PVC,PE,铜合金,铝合金,土壌)
　　　　　　　　FP(Fundamental Parameter)法定量分析软件