集成电路测试仪I*4040P

品牌:恒威仪讯型号:I*4040P

I*系列电路板故障检测仪

产品特点：

[I*]系列检测仪帮助您解除电路板维修中的烦恼。配合电脑使用，*智能化。它利
用电脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原
理的情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或I*测试，在线检测元器件好坏，*检
测到电路板上故障元器件。简捷经济地修好各种类型电路板。

产品特点：
◆*的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好
◆友好简单的中文操作界面，不经*训练，任何人均可成为维修专家
◆无需电路原理图，不*知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修
◆40/40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库
◆40/40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能
◆电路板测试存储功能，被测板可与之比较
◆与*同类仪器比较，性价比更优，操作更方便
◆通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试
◆本功能亦可通过学习记录，比较分析来测试

技术规格：

I*4040P/4080P/8080P 电路板故障检测仪[I*]系列检测仪帮助您解除电路板维修中的烦恼。配合电脑使用，*智能化。它利用电脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原理的情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或I*测试，在线检测元器件好坏，*检测到电路板上故障元器件。简捷经济地修好各种类型电路板。产品特点：◆*的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好◆友好简单的中文操作界面，不经*训练，任何人均可成为维修专家◆无需电路原理图，不*知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修◆40/40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库◆40/40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能◆电路板测试存储功能，被测板可与之比较◆与*同类仪器比较，性价比更优，操作更方便◆通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试◆本功能亦可通过学习记录，比较分析来测试*ASA+I*测试器 ASA（Analong signature Analysis）对元件每个管脚提供一个*、低功率的扫描驱动电压信号，以便产生一个阻*性图并在CRT上显示、且可存储，以备比对。*测试都是在静态下（不加电）执行，所以不会伤害元件。它不*能快速扫描并存储各类IC每个管脚V/I曲线图形，并且对各类分立元件如：电阻、电容等同样*。I*（In circuitTesting）它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较，测试时可在CRT上显示元件管脚连接状态，元件输入管脚的输入波形，同时显示相应输出管脚的实测波形及标准波形，以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏，也可测试分析，还可识别不明型号的IC。[I*]系列检测仪检测更加*准确■ 功能测试软件设上拉电阻——方便集电*开路门的测试 ■ 功能测试外供电源稳定可靠——各种大、中、小型被测电路板皆可测试 ■ 功能测试具有三态识别能力——可测三态器件和IC负载能力下降故障 ■ V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线 ■V/I测试六个扫描频率——*V/I曲线测试稳定* ■ V/I测试三种测试电压幅度——确保各类器件的V/I测试集成电路在线功能测试本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测74系列、4000/45000逻辑IC、75系列接口IC各种存储器等千余种集成电路。1、快速测试：直接显示测试结果，*确定可疑IC 2、分析测试：显示*测试过程，测试激励。预期和实际响应，帮助分析故障原因3、器件识别：查找无标记型号IC或同功能不同型号的IC。集成电路在线状态测试通过好坏板上相应IC的状态进行比较，找出有故障的IC。1、状态学习：在线学习无故障IC的引脚关系，互连状态和测试的激励与响应，并存入数据库中2、状态比较：同故障板上相应IC在线进行状态比较，根据两者差异判定IC好坏3、状态显示：显示存入电脑库中的各IC的状态资料。集成电路离线功能测试离线测试IC功能好坏，自动识别未知型号的芯片 IC逻辑图查询可查阅逻辑电路的逻辑功能图，管脚图及部分参数。V/I曲线测试通过好坏板上相应节点的动态阻*圈的异同判定故障节点及故障IC 1、曲线学习：在线学习无故障板上各节点的动态阻*曲线（V/I曲线），并存入数据库中 2、曲线比较：同故障板上相应节点的动态阻*曲线进行比较，根据差异大小及维修经验判定与此节点相关的IC是否损坏 3、曲线显示：显示已存入电脑库中电路板上各个节点的动态阻*图资料大规模集成电路分析测试网络提取测试使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采用了四种模式： 1、探棒对探捧（“棒”—“棒”模式） 2、探捧对测试夹（“棒”—“夹”模式） 3、测试夹对探捧（“夹”—“棒”模式） 4、测试夹对测试夹（“夹”—“夹”模式）开发编译 TVED为每一块电路的每一个子测试都安排了一个说明文件。该说明文件可以通过任何一个文本编辑器建立，并按TVED要求转换后即可与相应子测试关联起来，*用热键查看相应说明文件。 1、TVED允许两种建立测试图形和方法 a）在TVED图形界面上直接建立 b）读入DCL语言的编译结果 2、编辑测试图形利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加以调整、修改。 3、4种测试方式： a）完整执行一个测试 b）执行一个测试的一部分c）循环执行 d）单步运行型号 I*4040P I*4080P I*8080P通道 I*F: 40thV/I曲线:40th I*F: 40thV/I曲线: 80th I*F: 40×2thV/I曲线: 80th补充：I*4080P/8080P系统功能·单个器件功能测试 ·IC状态测试 ·VI曲线分析 ·PROM操作 ·LSI在线分析 ·数据库整理 ·系统维修日记·器件端口特征曲线测试·使用原测试软件·TVDE高级测试平台·*网络测试对应于“单个器件功能测试”中的12个功能 MSI在线功能测试 MSI离线功能测试 MSI在线型号识别 MSI离线型号识别 MSI在/离线循环测试 RAM离线*测试 RAM在线快速测试 RAM在线*测试 PROM离线空检测 LSI离线功能测试 LSI在线功能测试 LSI离线测试库更新对应于“PROM操作”中的11个子功能 PROM离线*学习 PROM离线*比较 PROM离线学习库内容显示 PROM离线学习库内容转换 PROM在线快速学习 PROM在线快速比较 PROM在线快速显示 PROM在线*学习 PROM在线*比较 PROM在线*学习库内容显示 PROM在线*学习库内容转换对应于“VI曲线分析”中的4大功能 VI曲线学习 VI曲线比较 VI曲线显示双板直接对比对应于“IC状态测试”中的3大功能 IC状态学习 IC状态比较 IC状态显示对应于“LSI在线分析”中的3大功能 LSI在线学习 LSI在线比较 LSI在线显示对应于主框架的17项功能按钮单个器件功能测试IC状态测试 VI曲线分析 PROM操作 LSI在线分析模拟器件直接测试系统自检数据库整理建立系统维修日记文件原测试软件 TVDE高级测试平台 *网络测试交叠方式排列窗口非交叠方式排列窗口分割指定窗口主界面进入系统帮助对应于“模拟器件直接测试”菜单的3大功能模拟器件直接测试模拟器件型号识别添加新器件热键·Alt+L 进入“LSI在线分析”界面 ·Alt+M 进入“数据库整理”界面·Alt+N 进入“*网络测试”界面 ·Alt+O 进入原测试软件界面·Alt+R 进入“PROM操作”界面 ·Alt+S 进入“IC状态测试”界面·Alt+T 进入“系统自检”界面 ·Alt+V 进入“VI曲线分析”界面·F1 获取帮助 ·Alt+X 退出本系统系统运行环境操作系统： Windows 98 或 Windows NTC P U ： PII 以上内存： ≥16M硬盘空间： ≥25M鼠标： *备，可为任意型号显示： 1024×768，24位真彩色电源： 220V/50Hz

供应集成电路测试仪I*4040P