非破坏式光学薄膜分析系统ST6000

类型:薄膜测厚仪品牌:科美型号:ST6000 测量范围:100?~ 35?（mm）

ST6000

·工业规格
·适合测量液晶显示器
·适合TFT-LCD和STN-LCD使用

活动范围	370mm x 470 mm~
测量范围	100?~ 35?
光斑尺寸	40?/20?, 4?(option)
测量速度	1~2 sec./site (fitting time)
应用领域	聚合体: PVA, PET, PP, PR 电解质:SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4... 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 显示 : PR, ITO, SiO2, TiO2, ZrO2, SixNx
选择	Contact Angle Measurement RS Measurement Using a 4-point Probe Tran*ittance Measurement
特征	通讯接口模块传达方式自动机械活动控制电荷耦合器件照相机自动调焦模式识别

供应非破坏式光学薄膜分析系统ST6000