1、 性能参数及技术指标
分析元素范围：S-U；
元素含量分析范围：0.0001%-99.99%（采用1024道多道分析器）；
采用美国航天技术的Si (PIN) 半导体探测器计数，能量分辨率160eV；
测量范围：2－30KeV；
测量下限：Cd:15ppm;Pb、Hg:10ppm;Br:10ppm;Cr:30ppm;(以塑胶标样为例）；
测量物质状态：固体、粉末、液体均可检测，制样简单；
校正方式：采用欧盟RoHS塑胶标样校准数据；
重复性：<0.1%；
稳定性：< 0.01%；
高压：5kV-40kV（激发源40KV-钨靶微型X射线管）；
管流：10μA-100μA；
整机能量分辨率：180-190eV；
检测时间：120S～240S；
额定功率：50W；
仪器重量：25Kg；
一体化设计，性能稳定，运行*，*；全中文应用软件，操作简单，测量时间短；同时配备PC机，分析仪通过无线蓝牙技术可单独和PC进行通信测试，方便使用；
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）检测；
2 、仪器硬件配置
40KV小型X光管；
美国航天技术的Si（PIN）半导体探测器计数，能量分辨率160eV；
自制放大电路及分析主机；
样杯两套；
制样机一台；
制样模具一套；
计算机一台（P4，液晶显示屏）；
打印机一台（喷墨打印机）；
分析软件一套； | 
