QNix4200/QuaNix4200涂镀层测厚仪

德国Automation公司成立于1958年。长期以来一直致力于开发、研制、生产涂层测厚仪。早在公司*人尼克斯（Dr.Nix）博士的父亲即开始研究涂层测厚仪。自发明世界上*台测厚仪以来，尼克斯家族经过几代人的努力，为测厚仪领域做出了杰出贡献。同时，也保持了技术*。在仪器的精度和*干扰性方面，注册了多项*。成为当今涂层测厚仪的*优点。
*位稳定：*涂层测厚仪测量前都要求校准*位，可以在随仪器的校*板或未涂覆的工件上校*。仪器*位的稳定是*测量准确的前提。一台好的测厚仪校*后，可以长时间保持*位不漂移，*准确测量。
无需校准：多数测厚仪除了校*外，还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度，要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不*操作烦琐，而且也会因标准片表面粗糙失效，*系统误差。
温度补偿：涂覆层厚度的测量受温度影响*大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以*不同温度下的测量精度。
红宝石探头：探头接触点的*性直接影响测量的精度。普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。
*的直流采样技术：使得测量重复性较传统交流技术有*的*和*。
双功能用途：
1.测量钢、铁等铁磁性（Fe）金属基体上的非磁性涂镀层的厚度，如油漆层、各种*腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉等
2.测量铜、铝、不锈钢等非铁磁性（NFe）基体上的*非导电层的厚度，如油漆层、各种*腐涂层、涂料、粉末喷涂、塑料、橡胶、合成材料、氧化层等。

德国尼克斯QuaNix 4200涂层测厚仪技术参数