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白光干涉仪
白光干涉仪的检测应用
结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜,结合显微物镜与干涉仪,不需要复杂的光路调整程序,兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点,可提供垂直扫描高度达400μm之微三维量测,*种材料与微组件表面特征和微尺寸检测。应用领域包含:
·晶圆(Wafer)
·光盘/硬盘(DVD Disk/Haed Disk)
·微机电组件(MEMS Components)
·平面液晶显示器(LCD)
·高密度线路印刷电路板(HDI PCB)
·IC封装(IC Package)
·以及其他材料分析与组件微表面研究
*精密的干涉条纹解析软件(ImgScan)
·系统硬件搭配ImgScan前处理软件自动解析白光干涉条纹。
·垂直高度分辨率可达0.1nm。
·*的分析算法则,让您不在苦候量测结果。
·垂直扫描范围的设定轻松又容易。
·10×,20×与50×倍率的物镜可供选择。
·平台X、Y、Z位置数显式显示,使检测标的寻找快速又便利。
·具有手动/自动光强度调整功能以取得*佳的干涉条纹对比。
·具有*的PVSI与*的VSI扫描量测模式供7选择。
·具有*的解析算法则,可处理半透明物体的3D形貌。
·具有自动补点功能。
·可自行设定扫描方向。
*级的3D图形处理与分析软件(PostTopo)
·提供多功能又具亲和接口的3D图形处理与分析。
·提供自动表面平整化处理功能。
·提供阶*片的软件自校功能。
·深度/高度分析功能,提供线型分析与区域分析等两种方式。
·线型分析方式提供直接追溯ISO定义的表面粗糙度(roughness)与起伏度(waviness)的量测分析。可提供多达17种的ISO量测参数与4种额外量测数据。
·区域分析方式提供图形分析与统计分析。具有平滑化、锐化与数字滤波等多种二维快速傅利叶转换(FFT)处理功能。
·量测分析结果以BMP等多种图形档案格式输出或是以Excel文本文件格式输出。
机台规格:
型号 | SWIM1510MS | ||
系统配备 | 显微镜、扫描控制器、移动平台、取像单元、个人计算机 | ||
显微镜 | 单眼显微镜(标准配件) | ||
干涉物镜(选配) | 放大率 | 视野(mm) | 光学分辨率(μm) |
10× | 0.5 | 1.12 | |
20× | 0.25 | 0.84 | |
50× | 0.1 | 0.61 | |
影像缩放 | 1.0×(标准)0.5×(选配) | ||
垂直扫描控制器 | 扫描范围 | 100μm(400μm,选配) | |
扫描分辨率 | 0.1nm | ||
扫描模式 | 自动 | ||
光强度调整 | 自动/手动 | ||
扫描速度 | 12μm/s(*快) | ||
样品移动平台 | X-Y平面移动平台 | 150mm×100mm,手动(标准配件) | |
Z轴移动平台 | 80mm,手动(标准配件) | ||
位置数字显示单元 | 三轴光学尺与三轴数字显示器(分辨率1μm) | ||
偏移调整工作台 | 手动 | ||
取像单元 | 影像传感器 | 面型CCD(标准配置) | |
传感器分辨率 | 640×480像素(标准配件) | ||
计算机配备 | Pentium-computer,17″LCD Monitor,120GB以上硬盘机 | ||
分析软件 | MS-Windows兼容的数据攫取与分析软件,包含ISO粗糙度/阶高分析,快速傅利叶转换和滤波,多样的2D和3D观测视角图,外形分析,图像缩放,标准影像档案格式转换等等。 | ||
阶*片(选配) | 50nm、170nm、230nm、470nm、1800nm |