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微电阻计3541 测量电阻 20m/200mΩ, 2/20/200/2k/20k/100kΩ, 1M/10M/100MΩ,*小分辨率: 0.1μΩ,在慢挡模式下: 2/20/200/2kΩ, *小分辨率: 10μΩ
微电阻计3541详细参数
日本日置HIOKI 3541微电阻计 商品简介
| | 日本日置HIOKI 3541微电阻计的性能:- 广范围测量 0.1μΩ(20.00mΩ),*高110MΩ
- 快速采样,*快可达0.6ms (*根据设定条件的不同,会有差异)
- 补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能
- 运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计
- 具备统计、演算功能。若再另配选件的9670,可*印字功能。
- 宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计
日本日置HIOKI 3541微电阻计的基本参数测量电阻 | 20m/200mΩ, 2/20/200/2k/20k/100kΩ, 1M/10M/100MΩ,*小分辨率: 0.1μΩ,在慢挡模式下: 2/20/200/2kΩ, *小分辨率: 10μΩ | 显示 | 20m~20kΩ时,*大显示值200000, 100k~100MΩ时,*大显示值110000, LED显示 | 精度 | (SLOW2) &plu*n;0.007% rdg. &plu*n;15dgt.(2k/20kΩ),在慢挡模式下: &plu*n;0.011% rdg. &plu*n;100dgt.(2~2kΩ) | 测量电流 | DC 1A~100nA, 在慢挡模式下: DC 10m~10μA | 开路端子电压 | DC 5V(20/200m), 2.6V(2~20k), 13V(1M~100M),在慢挡模式下: 60mV | 采样速度 | | 快速 | 中速 | 低速 1 | 低速 2 | 50Hz | 0.6ms &plu*n; 0.3ms
| 21ms &plu*n; 1ms | 155ms &plu*n; 5ms | 455ms &plu*n; 10ms | 60Hz | 0.6ms &plu*n; 0.3ms | 17ms &plu*n; 1ms | 149ms &plu*n; 5ms | 449ms &plu*n; 10ms | 应答时间(纯电阻时):上记采样时间+约1ms(根据设定内容、试料的不同,会有差异) |
| 测量温度 | (9451) -10.0℃~99.9℃(-10.0~39.9℃: &plu*n;0.45% rdg. &plu*n;0.8℃, 40.0~99.9℃: &plu*n;0.45% rdg. &plu*n;1.5℃) | 温度补正功能 | 任何温度(9451或是温度探头),?任何材質都可进行补正电阻数值换算(补正温度范围 -10.0~99.9℃) | 温度换算功能 | 具备因周围温度,卷线电阻值,而引起的卷线温度上升数值换算功能。 | 其它功能 | 比测仪,*大可储存装填30种设定条件,分类(BIN)测量(10分类), 统计演算, 补正偏置电压,迟延 , 平均 | 数子输入/输出 | 输出: BCD, 测量结束,比测仪结果, BIN结果, NG/开放连接器输入: 设定条件选择, 触发, 校准, 0ADJ,印刷 /C-MOS | 供应电源 | AC 100~240V, 50/60Hz, 30VA max. | 体积于重量 | 215宽 × 80高 × 295厚mm, 2.6kg | 附件 | 9287夹式测试线× 1, 9451温度探头× 1, 電源线× 1,保险丝× 1, EXT I/O用*式连接器× 1 |
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