韩国* 薄膜厚度测量仪 ST2000

品牌:K-MAC 型号:ST2000 外形尺寸:190 x 265 x 316 mm（mm） 重量:12Kg（Kg） 产品用途:测量

Stage Size	150 x 120mm(70 x 50mm Travel Distance)
Measurement Range	200?~ 35?(Depends on Film T*e)
Spot size	20? T*ically
Measurement Speed	1~2 sec./site
Application Areas	Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : Semiconductors : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
Option	Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST)
Head	Trinocular Head
Nosepiecs	Quadruple Revolving Mechani* with Inward Tilt
T*e of Illumination	12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

本产品适用于半导体领域内，测量薄膜厚度的光学分析仪器。我公司的ST产品的测量时间*短暂，测量方法是属于非接触非破坏方法，使用显微镜可以测量很小区域内的再现性和准确性，现在，我们公司的薄膜测厚仪是远远*于使用其它方法的其它产品。

【】厚度测量领域内的分解能力属于*初微小领域测量

【】可以*于测量微小领域的厚度分布

【】可以测量Wafer上的多层薄膜厚度与光学常数-折射率与吸收率

【】可以实时的测量厚度变化量与具有角度显示，打印，保存功能

【】可以快速的在1秒之内接受data并且*data