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本测量仪可用来测量液晶盒内间隙之厚度(1 —10 );电容膜或其他类型薄膜的厚度(1 -50 );也可当作台阶仪用来测量十分薄的薄膜的厚度(10nm-1 ),如液晶显示器中的PI膜、ITO和氧化硅层等厚度的测量。
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