TX400芯片检查显微镜(图)

类型:光学显微镜品牌:1 型号:TX400 目镜放大倍数:10X 物镜放大倍数:40X 重量:14（g）适用范围:1 装箱数:1

产品特点：
芯片检查显微镜是一种结构新颖，象质良好，物镜工作距离较长，使用方便的显微镜。显微镜载物台可作X、Y、Z向三个方向移动，有粗微调调焦、限程、制动及自动复位机构，并设有上下照明装置，以分别对透明或不透明的被测物进行观察读数。芯片检查显微镜还备有多种规格的硅片框和掩板框，尤其适用于电子工业制造集成电路检验掩模板和硅片上的图案，可与光刻机配套使用，同时在其他*、印刷、工农业生产和科研部门也有广泛的用途。
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【备　　注】：

芯片检查显微镜TX400主要技术参数见下表：

项目	参数
目镜放大倍率	10X
目镜十字线分划格值	0.04mm
物镜放大倍率	5、10、20、40X
载物台幅面	150X150mm
载物台移动范围	X向&plun;50mm; Y向 &plun;50mm; Z向 &plu*n;22mm
输入电压	220V
外形尺寸	长×宽×高 400×280×430mm
净重	14kg

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