PC-LEPTOSKOP 2050涂层测厚仪

类型:薄膜测厚仪品牌:PC-LEPTOSKOP 型号:2050 测量范围:1200 μ m（mm）

应用实例为
PC-leptoskop 2050：
笔记型电脑与个人电脑软件statwin 2002，
电脑微型探头和定位装置

PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH公司提供膜层测厚仪的探头，它*和普通电脑的串口线相连。所以普通膜层测厚仪的功能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的通用电脑软件STATWIN 2002来实现。
当启动statwin 2002时，一个真实的涂层测厚仪显示图像就可以显示在个人电脑的屏幕上。 *功能操作*点击一下鼠标或键盘。STATWIN 2002用statwin 2002，可以分批储存和管理几乎任何数量的测量数据。文件和归档几乎是无限的。此外，该软件附带了大量的统计功能，可以实现测量评估和批次。

除了有测量铁磁性基体上非铁磁涂层的厚度（如钢铁上的漆层或铬层）和导电材料上的非导电层涂层的厚度（如非铁金属上的漆层），测量范围到1200 μ m的标准探头，我们还有**的、能测量不同的小部位或复杂的几何形状的探头，双晶探头可测量厚度*12.5mm，我们同时还提供完整的配件。
为固定测试有*的设计，PC-leptoskop 2050是一个*的膜层测厚仪。

订货信息
STATWIN 2002电脑软件　　　　　　　　　　2904.001
用于Windows 9x/XP/Me/2000/NT4.0

探头，测量范围和订货号

探头