供应I*-33C 集成电路测试仪

品牌:I*-33C 集成电路测试仪 型号:I*-33C 集成电路测试仪 测量范围:集成电路测试仪 测量精度:集成电路测试仪 产品用途:集成电路测试仪

*器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。
*器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
*器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
*器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。
*内部RAM数据修改：I*-33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。
* EPROM、EEPROM器件读入：I*-33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入
并保存。
* EPROM、EEPROM器件写入：I*-33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM
器件中，并自动校验。

可 测 器 件（1300多种）

1. CMOS40系列：103种。
2. CMOSMC140系列：103种。
3. CMOS45系列：60种。
4. CMOSMC145系列：60种。
5.光耦合器系列：133种。
6. TTL74/54系列：714种。
7. TTL75/55系列：82种。
8. 数码管系列： 0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]；0.7吋共阳[005]；共阴[006]。

9. 常用RAM系列： 6
10. EEPROM系列：01
11. EPROM系列：12
12. 微机外围电路系列： 8728 Z8O*C(8O2)
13. 常用单片机系列：2
14. 其他系列： 192 2936MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506