表面粗糙度测量仪(图)

表面粗糙度测量仪 
品牌:KOSAKA
型号:SE1200
产地:日本
- 便携式
- 多种测试参数选择
- *合国际标准
- 应用范围广
- *成本高
 
 
详细说明
特性：
- Skidless 测量方式
  可采用 skidless 或 skidded 方式来测量工件表面粗糙度，对于长度短、
  狭小且深的表面可选用 skidless 来测量
- 测量设定可记忆
  可预设9组测量设定参数，并以一键操作调出使用或显示与打印出来
- 有相比其它同类仪器的*高解析度：0.008um(便携型)
- *合多种国际标准
  JIS、ISO、ASME、DIN等
- 可根据工件状况选择不同探针来配合测量要求
- 可自动执行测量命令并即时打印结果，完成测量之后探针能自动返回
- 可加标注或编号于数据页上
- 内置统计模式、平均模式输出测量数据的*大/*小/平均/偏差值等
- 内置快速充电电池，电池量显示在屏幕上。
- RS232C介面
- 探针位置*出范围峰鸣声提示

技术参数：
行程长度 25 mm
线性精度 0.8 um / 10 mm
测量范围/解析度 520 um / 0.008 um
测量方式 skidless / skidded 二种
探针/滑动 R5 um 钻石探针 / R40 mm 蓝宝石护套
可测试参数 Ra/Ra75, Ry/Rz, Rz, tp, Sm, Rt, Rp, Rv, Pc, HSC, Rq/RMS, RmaxD, R3z, Rt, Rmax, R*, Rmr(c), R&C, Rsk, Rku, Rk, Mr1, Mr2, Rpk, Rvk, A1, A2, Pa, Pz, Pp, Pv, Pq, PSm, Pmr(c) P&c, Pt, Pak, Pku, Wa, Wz, Wp, Wv, Wq, W*, Wmr(c), W&c, Wt, BAC, ADC, P/R/W 轮廓
滤波器选择 Gauss, 2RC(75%), ISO 13565-1(DIN4776)
切断系数(λc) c: 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, R+W   λs: ISO 3274(96)      
λc-λf: 0.08 - 0.8, 0.25 - 2.5, 0.8 - 8 mm
测量长度 c x 1, 2, 3, 4, 5 / 0.08 ~ 25 mm 中任意长度
垂直放大倍数 50, 100, 200, 500, 1000, 2000, 5000, 10000, 20000, 50000, 
100000 及自动设定
水平放大倍数  1, 2, 5, 10, 20, 50, 100, 200, 500, 1000, 
25mm / λc, 50mm / λc
测量速度 0.2, 0.5 mm / sec
返回速度(自动) 0.2, 0.5, 1 mm / sec
倾斜范围选择 &plu*n;3.4°