粒度分析仪
地区:广东 东莞
认证:
无
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产品属性
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N4 PLUS纳米颗粒粒度分析仪
原 产 地: 美国BECKMAN COULTER
技术参数:
测量范围: 1-5,000nm
测量时间:30-180秒
重现性: *3%CV
粒度分布:可区别平均粒度比大于2.5的两个峰
精度: 2-5%
样品温控范围:0-90℃±0.1 ℃
数据输出:平均粒度、粒度分布、扩散系数及平均分子量
激光源:10mW He-Ne激光器,波长632.8nm
探测器:六角度探测器
主要特点:
N4 Plus是采用激光法测*细颗粒的粒度分析仪,激光法测颗粒度,是基于ISO13321标准分析颗粒粒度的一种方法,即利用运动着的颗粒所产生的动态 的散射光,通过光子相关光谱分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析纳米颗粒粒度,其特点是快速、准确、分辨率高。
是同类产品中*采用六个角度(在0-900C角度范围)检测的仪器
*的指纹分析给出六角度的Unimodal分析图,快速判别样品类型
N4 PLUS纳米颗粒粒度分析仪
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