粒度分析仪

N4 PLUS纳米颗粒粒度分析仪
原 产 地： 美国BECKMAN COULTER
技术参数：
测量范围： 1-5,000nm
测量时间：30-180秒
重现性： *3%CV
粒度分布：可区别平均粒度比大于2.5的两个峰
精度： 2-5%
样品温控范围：0-90℃±0.1 ℃
数据输出：平均粒度、粒度分布、扩散系数及平均分子量
激光源：10mW He-Ne激光器，波长632.8nm
探测器：六角度探测器
主要特点：
N4 Plus是采用激光法测*细颗粒的粒度分析仪，激光法测颗粒度，是基于ISO13321标准分析颗粒粒度的一种方法，即利用运动着的颗粒所产生的动态 的散射光，通过光子相关光谱分析法PCS(Photon Correlation Spectroscopy)分析纳米颗粒粒度，其特点是快速、准确、分辨率高。
是同类产品中*采用六个角度（在0-900C角度范围）检测的仪器

*的指纹分析给出六角度的Unimodal分析图，快速判别样品类型